不需要预先分离基体，采用荧光酮光度法直接测定了---中微量铝。考察了测定条件、表面活性剂的增敏作用、铁和基体钒对铝测定的干扰及干扰的消除方法。结果表明:以非离子表面活性剂吐温-80作为增敏剂显色反应的增敏效果好，---催化剂，采用酒石酸钠可以消除---中铁离子对铝的干扰。由于钒在显色体系中随着浓度的变化吸光度呈现出线性变化规律，所以对于钒基体的干扰，提出了用平面模拟方程进行校正。校正后铝的计算值与理论值吻合较好，相对偏差在±2%以内，表明了方法是可行的。方法用于实际样品分析，铝的测定值与方法的测定值一致。方法所涉原理及计算都比较简单，这不仅适用于实验室，也同样适用于工业流程分析。
介绍了粉末压片-x-射线荧光光谱法测定---中v2o5，si，p，fe，k2o，na2o，s含量的分析方法。根据---样品中主次成分含量范围，用高纯试剂配制出具有成分含量梯度的并经其他方法定值的校准样品绘制校准曲线；以仪器提供的基体校正方法消除吸收与增应影响，用本文提出的“干扰增量法”测量与计算出重叠校正系数k，输入仪器自动校正，------，同---估出干扰元素一定含量影响分析元素的净增含量。该方法与其他方法测定样品结果之间具有---的一致性，同一试样的11次制片测定，各成分结果的相对标准偏差在0．073％-7．35％范围内。
用原位氧化聚---将聚分子链插入层状---的片层中，武汉---，从而制得了一系列聚/---(pan/v2o5)杂化纳米复合材料。采用waxd、ft-ir、tga及四探针电导率测量等手段对产物进行表征，结果表明，高纯---，聚分子以单层形式在受限的纳米空间(---的片层中)生成，聚以伸展的单分子链存在，自由电子得到充分离域，pan/v2o5杂化材料室温电导率在10-3s/cm～10-2s/cm之间。
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